高加速應(yīng)力試驗(yàn)
高加速應(yīng)力試驗(yàn)是IBM公司的Gunn、Malik和Mazumdar于1981年首次提出的一個(gè)全新的試驗(yàn)方法[ 30 ] 。高加速應(yīng)力試驗(yàn)是在電子技術(shù)高速發(fā)展的基礎(chǔ)上出現(xiàn)的。它主要用來(lái)代替?zhèn)鹘y(tǒng)的85℃/85%RH的溫度/濕度(Temperature Humidity Bias , THB)試驗(yàn),能夠大量縮短試驗(yàn)時(shí)間。如THB 需要花費(fèi)1000 h才能完成的試驗(yàn),采用HAST只需96～100h。正是由于HAST的上述優(yōu)點(diǎn),近些年來(lái),越來(lái)越受到人們的歡迎,國(guó)外有些公司開(kāi)始用HAST代替?zhèn)鹘y(tǒng)的THB試驗(yàn)[ 31 ] 。至今,我國(guó)還沒(méi)有開(kāi)展高加速應(yīng)力試驗(yàn)研究的報(bào)道。
 研究展望
加速可靠性試驗(yàn)?zāi)軌蚩s短試驗(yàn)周期,使產(chǎn)品進(jìn)行市場(chǎng)的周期大大縮短。根據(jù)對(duì)各類(lèi)加速可靠性試驗(yàn)公開(kāi)發(fā)表文獻(xiàn)的分析,結(jié)合我國(guó)的技術(shù)水平和研究現(xiàn)狀,對(duì)我國(guó)加速可靠性試驗(yàn)的研究提出以下幾點(diǎn)建議。
1) 積極開(kāi)展高加速應(yīng)力試驗(yàn)研究,爭(zhēng)取替代傳統(tǒng)的溫度/濕度試驗(yàn)。
2) 對(duì)可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)的關(guān)鍵技術(shù)如試驗(yàn)指南、相關(guān)設(shè)備研制、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析等方面進(jìn)行進(jìn)一步深入研究,
3) 對(duì)復(fù)雜系統(tǒng)的加速壽命試驗(yàn)進(jìn)行進(jìn)一步的探討,對(duì)加速壽命試驗(yàn)的統(tǒng)計(jì)分析精度、試驗(yàn)效率、優(yōu)化設(shè)計(jì)問(wèn)題進(jìn)行進(jìn)一步深入研究。
4) 進(jìn)一步推進(jìn)加速可靠性試驗(yàn)技術(shù)的工程應(yīng)用研究